溫濕度循環(huán)試驗(yàn)箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟叩蜏鼗驖駸岘h(huán)境下、檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)?？捎糜谏嵩囼?yàn)樣品和非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)。對(duì)于散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)，其散熱功率不能超過(guò)試驗(yàn)箱制冷量，因制冷量為動(dòng)態(tài)值，其隨溫度點(diǎn)變化而有所變化，同時(shí)，較高濕度也會(huì)因散熱產(chǎn)品帶來(lái)熱量須冷卻平衡時(shí)引起凝露而受到影響?？赡M高溫高濕/高溫低濕/低溫高濕/高溫/低溫等不同環(huán)境條件下產(chǎn)品的適應(yīng)能力。廣泛應(yīng)用于電子、電器、食品、汽車(chē)、橡塑膠、金屬、化學(xué)、建材等產(chǎn)品的檢測(cè)。

制冷機(jī)采用法國(guó)原裝“泰康"全封閉壓縮機(jī)。

冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。

采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫濕度分布均勻。

風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開(kāi)門(mén)瞬間溫濕度回穩(wěn)時(shí)間快。

升溫、降溫、加濕系統(tǒng)*獨(dú)立可提高效率，降低測(cè)試成本，增長(zhǎng)壽命，減低故障率。

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)
GJB 150.9A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第9部分：濕熱試驗(yàn)  

箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方，并采用無(wú)反作用把手，操作簡(jiǎn)便。
箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口高級(jí)不銹鋼（SUS304）鏡面板，箱體外膽采用A3鋼板噴塑，增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。
補(bǔ)水箱置于控制箱體右下部，并有缺水自動(dòng)保護(hù)，更便利操作者補(bǔ)充水源。
大型觀測(cè)視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時(shí)清晰的觀測(cè)箱內(nèi)狀況。
加濕系統(tǒng)管路與控制線路板分開(kāi)，可避免因加濕管路漏水發(fā)生故障，提高安全性。
水路系統(tǒng)管路電路系統(tǒng)則采用門(mén)式開(kāi)啟，方便維護(hù)和檢修。
門(mén)與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測(cè)試區(qū)的密閉。
箱體左側(cè)配直徑50mm或100mm的測(cè)試孔，可供外接測(cè)試電源線或信號(hào)線使用。(孔徑或孔數(shù)須增加定貨時(shí)說(shuō)明)。
機(jī)器底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動(dòng)輪。

溫濕度循環(huán)試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格：